 |
  |
| |
| |
| |
Обновлено 28 Июля 2008
Патенты США :
US 6,441,371 Scanning probe microscope
US 6,615,640 B2 Fine friction and wear test apparatus for plate specimen
US 2002/0062678 A1 Fine friction and wear testing apparatusПатенты, зарегистрированные в Республике Корея:
20030000282 Fine friction and wear test apparatus for plate specimen
20020062678 Fine friction and wear testing apparatus
1019990016708 Step motor controlling system
1020060065261 Electromagnetic driving apparatus generating linearly reciprocating movement, capable of controlling electromagnet with high resolution in displacement of two ranges by using sensor connected to close loop systemПатенты, зарегистрированные в Японии:
2002202244 Experimental device for minute frictional wear
2003042920 Fine friction and wear test apparatus for plate specimenВ 2007г. компанией TFS Global Co., Ltd. подана заявка на патент в Республике Корея: "Atomic force microscope having variable stiffness probe.", в котором описана конструкция зонда, жесткость которого может изменяться в широких пределах с целью сканирования поверхностей и исследования их механических свойств методом наноиндентирования.
В 2008г. компанией TFS Global Co., Ltd. подана заявка на патент в Республике Корея: "Ultrasonic parking sensor.", в котором описана конструкция датчика парковки автомобилей.
